Meetlocaties PFOS - ondiep, beïnvloed

In deze kaart zijn de meetlocaties te zien die door het RIVM bemonsterd zijn ten behoeve van het onderzoek naar de afleiding van de definitieve achtergrondwaarde PFAS in landbodem. De kaart laat meetwaarden zien van PFOS in de bovenste 20 cm van de bodem in potentieel beïnvloede gebieden. Omdat de afleiding van de definitieve achtergrondwaarden is gebaseerd op de toplaag van de onbeïnvloede landbodem, zijn deze meetwaarden niet meegenomen in de afleiding van de definitieve achtergrondwaarde.